日本進(jìn)口santec多通道光功率計光學(xué)特性測量

日本進(jìn)口santec多通道光功率計光學(xué)特性測量 Santec/日本 OPM-150系列 特點(diǎn)介紹

桑泰克公司的OEM-150多通道光學(xué)功率計對于需要高通道計數(shù)的制造商或?qū)嶒炇襾碚f,是一種成本效益高的解決方案。

OEM-150最多可配備24個單獨(dú)的探測器,包括所有通道的同步功率測量和內(nèi)置USB和以太網(wǎng)通信。

OM-150能夠超過30毫秒的采樣時間  在USB接口上進(jìn)行快速反饋  纖維耦合和硅光子學(xué)的校準(zhǔn)應(yīng)用。

它具有同步光學(xué)功率測量能力  用戶可以立即發(fā)現(xiàn)端口故障,使OM-150成為  理想的儀器要求生產(chǎn)和實(shí)驗室應(yīng)用。

軟件可以方便地進(jìn)行自動化測試和數(shù)據(jù)導(dǎo)出。

光學(xué)校準(zhǔn)

硅光子學(xué)

光學(xué)信號監(jiān)測

環(huán)境試驗

*收發(fā)器測試

實(shí)驗室和研究與發(fā)展

平行激光燃燒試驗

日本進(jìn)口santec多通道光功率計光學(xué)特性測量 Santec/日本 OPM-150系列 規(guī)格參數(shù)

*混合和匹配不同類型的探測器(硅或英加拉)和尺寸(1、3、5或10毫米)

*24個探測器的同步讀數(shù)

*<30MS取樣時間

*彩色觸摸屏顯示

*USB或以太網(wǎng)

廣泛的工作范圍和光譜

OEM-150可以配置英加系統(tǒng)和硅(SI)探測器,每個探測器都有自己的測量范圍和波長譜。

Ingaas探測器能夠在830-1700納米的波長上測量從+6到-72的數(shù)字彈道。硅探測器能夠在400-1100納米波長下測量+3---65分管彈道快速按需抽樣時間

在USB接口上,超過30MS的采樣速率最多可達(dá)24個通道,以便為自動化和校準(zhǔn)目的進(jìn)行響應(yīng)性測量。