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產(chǎn)品展示/ Product display

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  • STG-01U日本kk-custom液晶顯示接觸式超聲波測(cè)厚儀

    日本kk-custom液晶顯示接觸式超聲波測(cè)厚儀 STG-01U 能夠測(cè)量從金屬到非金屬的各種材料的厚度。 通過測(cè)量從探頭輸出的超聲波進(jìn)入物體、在相反表面反射并返回的時(shí)間(傳播時(shí)間)來計(jì)算厚度。 可以輕松測(cè)量金屬制品的成品厚度、管道、鋼板等的腐蝕檢查以及卡尺或千分尺難以測(cè)量的區(qū)域的厚度。 配備背光液晶顯示屏,方便在黑暗場(chǎng)所使用。 配備自動(dòng)關(guān)閉電源以減少電池消耗。

    更新時(shí)間

    2024-10-13

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  • STG-01Ukk-custom日本進(jìn)口高精度測(cè)量超聲波測(cè)厚儀

    kk-custom日本進(jìn)口高精度測(cè)量超聲波測(cè)厚儀 STG-01U 能夠測(cè)量從金屬到非金屬的各種材料的厚度。 通過測(cè)量從探頭輸出的超聲波進(jìn)入物體、在相反表面反射并返回的時(shí)間(傳播時(shí)間)來計(jì)算厚度。 可以輕松測(cè)量金屬制品的成品厚度、管道、鋼板等的腐蝕檢查以及卡尺或千分尺難以測(cè)量的區(qū)域的厚度。 配備背光液晶顯示屏,方便在黑暗場(chǎng)所使用。 配備自動(dòng)關(guān)閉電源以減少電池消耗。

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  • STG-01U日本kk-custom超聲波測(cè)厚儀可測(cè)量各種材料

    日本kk-custom超聲波測(cè)厚儀可測(cè)量各種材料 STG-01U 能夠測(cè)量從金屬到非金屬的各種材料的厚度。 通過測(cè)量從探頭輸出的超聲波進(jìn)入物體、在相反表面反射并返回的時(shí)間(傳播時(shí)間)來計(jì)算厚度。 可以輕松測(cè)量金屬制品的成品厚度、管道、鋼板等的腐蝕檢查以及卡尺或千分尺難以測(cè)量的區(qū)域的厚度。 配備背光液晶顯示屏,方便在黑暗場(chǎng)所使用。 配備自動(dòng)關(guān)閉電源以減少電池消耗。

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  • STG-01U日本進(jìn)口kk-custom超聲波脈沖測(cè)厚儀/測(cè)厚計(jì)

    日本進(jìn)口kk-custom超聲波脈沖測(cè)厚儀/測(cè)厚計(jì) STG-01U 能夠測(cè)量從金屬到非金屬的各種材料的厚度。 通過測(cè)量從探頭輸出的超聲波進(jìn)入物體、在相反表面反射并返回的時(shí)間(傳播時(shí)間)來計(jì)算厚度。 可以輕松測(cè)量金屬制品的成品厚度、管道、鋼板等的腐蝕檢查以及卡尺或千分尺難以測(cè)量的區(qū)域的厚度。 配備背光液晶顯示屏,方便在黑暗場(chǎng)所使用。 配備自動(dòng)關(guān)閉電源以減少電池消耗。

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    2024-10-12

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  • TH-11日本chuo電解鍍層厚度測(cè)量?jī)x可測(cè)量各種電鍍

    日本chuo電解鍍層厚度測(cè)量?jī)x可測(cè)量各種電鍍 TH-11 這是一種破壞性測(cè)量?jī)x器,可用于電鍍質(zhì)量控制等,并且可以測(cè)量各種電鍍類型。 電解鍍層厚度測(cè)量裝置 耐腐蝕性是通過測(cè)量多層鍍鎳電解過程中出現(xiàn)的各層之間的電化學(xué)電位差來確定的。

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    2024-10-10

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  • TTS2100/TTS3100日本technomu精密測(cè)厚機(jī)非接觸式高精度測(cè)量

    日本technomu精密測(cè)厚機(jī)非接觸式高精度測(cè)量 TTS2100/TTS3100 它使用光譜干涉激光位移計(jì)來高精度測(cè)量晶圓厚度。 可以單獨(dú)測(cè)量沉積在硅基底上的樹脂薄膜、PET等的厚度。 這是自動(dòng)判定作品合格與否的檢查機(jī)。

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    2024-10-10

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  • FT-D210NL/FT-D210NLT日本fujiwork無引線型薄膜測(cè)試儀連續(xù)測(cè)厚機(jī)

    日本fujiwork無引線型薄膜測(cè)試儀連續(xù)測(cè)厚機(jī)FT-D210NL/FT-D210NLT可以在無引線的情況下從薄膜邊緣連續(xù)測(cè)量厚度,由于采用頭部夾緊方式,因此可以兼容厚工件。測(cè)量范圍20μm至500μm (FT-D210NL),500μm至3000μm (FT-D210NLT) 測(cè)量分辨率/0.1μm。

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    2024-10-09

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  • FT-D200H日本fujiwork無顯示薄膜測(cè)試儀連續(xù)測(cè)厚機(jī)

    日本fujiwork無顯示薄膜測(cè)試儀連續(xù)測(cè)厚機(jī) FT-D200H FT-D200的高分辨率規(guī)格(測(cè)量分辨率0.01μm) 高分辨率0.01μm可實(shí)現(xiàn)超薄膜的高精度測(cè)量 測(cè)量范圍 10μm 至 500μm 測(cè)量分辨率/0.01μm

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    2024-10-09

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